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力によって試料は装置内を飛行する。飛行しているイオンを電気的・磁気的な作用等により質量電荷比に応じて分離し、その後それぞれを検出することで、m/zを横軸、検出強度を縦軸とするマススペクトルを得ることができる。 質量分析では、試料分子が正または負の電荷を1つだけ持ったイオンの他、2価以上に荷電した多
ガスクロマトグラフィー–質量分析法(Gas Chromatography - Mass spectrometry、GC/MS)とは、ガスクロマトグラフで分離させた種々の成分を、質量分析計で検出する方法。 GC/MSはガスクロマトグラフ、インターフェース部、質量分析計から構成されている。 通常のガス
定量分析（ていりょうぶんせき、quantitative analysis）とは、試料中にある成分量を決定するために実施する化学分析である。試料中の成分が未知である場合は、定量分析に先立って定性分析を実施する。 古典的には成分の重量を測定する重量分析〈じゅうりょうぶんせき、gravimetric
のセクター型分析計は、イオンビームの方向および速度を収束させることのできる二重収束型質量分析計である。これは1936年にアーサー・ジェフリー・デンプスター、ケネス・ベインブリッジ、ヨーゼフ・マッタウフ（英語版）により開発された。 セクター型質量分析計
二次イオン質量分析法（にじイオンしつりょうぶんせきほう、英: Secondary Ion Mass Spectrometry、略称：SIMS）とは、質量分析法におけるイオン化方法の種類の一つである。特に固体の表面にビーム状のイオン（一次イオンと呼ばれる）を照射し、そのイオン
重量分析の結果は、以下によって表される、（1）熱重量曲線と呼ばれる質量 対 温度（または時間）曲線、または（2）示差熱重量曲線と呼ばれる重量減少速度 対 温度曲線。単純な熱重量曲線には、これが全てというわけではないが、次の特徴がある： 水平部、または平坦域は試料の重量が一定であることを示す。 曲線部、曲線の勾配は重量減少を示す。
〔analysis〕
〔mass〕
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