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中性子回折法（ちゅうせいしかいせつほう, Neutron diffraction; ND）とは、結晶による中性子線の回折現象を利用して、物質の結晶構造や磁気構造の解析を行う手法である。 中性子は、ほぼすべての原子の原子核に含まれる粒子であるが、それらは原子核中で束縛されている。中性子
、中性子線による急性被曝の検査手法などがある。 ^ 安(1980) p.1 ^ 安(1980) pp.1-2 ^ 安(1980) p.2 安 成弘『原子炉の理論と設計』東京大学出版会〈原子力工学シリーズ〉、1980年。 核分裂反応 - 高速中性子 中性子回折法 中性子イメージング 速中性子線治療
回折の幾何的配置が満たしたときにはじめてX線回折が観測できる。 ラウエやブラッグは点状の原子がX線を回折するものとして扱ったが、実際にX線を回折するのは原子中に広がった分布を持つ電子である。位置ベクトルrの位置にある微小体積dV中で散乱
回折や中性子回折がある。 電子回折は固体物理学や化学において、固体の結晶構造の研究によく使われる。電子回折 (制限視野電子回折またはSAED) パターンが得られる、もっとも典型的な実験装置は透過型電子顕微鏡 (TEM) である。電子後方散乱回折 (EBSD) パターンが得られる検出器が備わったTEM
エネルギーを強めることができる。この溝の角度を制御した回折格子をブレーズド回折格子という。 回折格子を身近なもので作ろうと思えば、だいたい1mm以下の周期でガラス板に溝を平行に刻んだり、透明シートに黒い線を印刷したりすれば可視光用の回折格子として機能し得る。 機械刻線 機械的にダイヤモンドカッターなどで溝を刻線する方法。
〔diffraction〕
低速電子線回折（ていそくでんしせんかいせつ、英: low-energy electron diffraction、LEED）は電子回折法の一種であり、電子を試料に照射し、それが回折される様子を観察することで、固体の表面構造を解析する技術である。利用される電子のエネルギーが低い（20 - 200
⇒ おれせん（折線）
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