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Annular Dark Field, HAADF)である。物質によって高角度に散乱される電子は主に、熱散漫散乱によるものであり、環状検出器では干渉性の低い散乱電子が支配的に検出される。したがって、HAADF-STEM像のコントラストは主に、試料の厚さと構成原子の原子番号
電子顕微鏡（でんしけんびきょう）とは、通常の顕微鏡（光学顕微鏡）では、観察したい対象に光（可視光線）をあてて像を得るのに対し、光の代わりに電子（電子線）を用いる顕微鏡のこと。電子顕微鏡は、物理学、化学、工学、生物学、医学（診断を含む）などの各分野で広く利用されている。 光学顕微鏡
走査型電子顕微鏡（そうさがたでんしけんびきょう、英語: scanning electron microscope、SEM）は電子顕微鏡の一種である。電子線を絞って電子ビームとして対象に照射し、対象物から放出される二次電子、反射電子（後方散乱電子、BSE）、透過電子
顕微鏡は、まだ性能で外国製に及ばなかった。これに触発された山下長は、世界に通用する顕微鏡の開発を目指し、高千穂製作所（後のオリンパス）を創立した。 光学顕微鏡 (OM) 実体顕微鏡 蛍光顕微鏡 レーザー走査顕微鏡 共焦点レーザー顕微鏡 電子顕微鏡 透過型電子顕微鏡 (TEM) 走査型電子顕微鏡 (SEM)
走査型顕微鏡（そうさがたけんびきょう）とは機械的、電子的な走査の機構を備えた顕微鏡の総称。 光学顕微鏡の場合、回折限界以下に集束して走査することで分解能を高める事が可能。走査方法は試料のステージを機械的に移動して走査する方法や電子線を曲げることで走査する方法がある。 走査型電子顕微鏡 走査型トンネル顕微鏡
顕微鏡 (STM)の原理を応用して試料表面の形状と電解質等のイオン流の2次元分布情報を可視化する。 ヘリウム原子を試料に照射して細部の構造を可視化する。微細加工も可能。 ^ a b “電界イオン顕微鏡・電界放射顕微鏡”. 2017年3月8日閲覧。 ^ 中村勝吾、「電界イオン顕微鏡による表面構造の研究」『日本結晶学会誌』
ホログラフィック顕微鏡 (DHM) は、デジタルホログラフィの像再生計算によって得られる複素振幅分布のうち、位相成分を抽出して再生像として用いることで、ナノメートルオーダの高さ変化や屈折率変化の検出が可能になった。 被写界深度が従来の光学顕微鏡よりも深いので3次元像を記録でき、歪の無い自由焦点画像を再生可能。
対物レンズからレーザーのような位相の揃った光源ではなくアークランプのような位相の揃わない光源でケーラー照明される。対物レンズは高開口(NA = 1.2)の液浸レンズが使用され、対向する対物レンズから入射した画像を重ねることにより干渉像を得る。2つの対物レンズ
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