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顕微鏡は、まだ性能で外国製に及ばなかった。これに触発された山下長は、世界に通用する顕微鏡の開発を目指し、高千穂製作所（後のオリンパス）を創立した。 光学顕微鏡 (OM) 実体顕微鏡 蛍光顕微鏡 レーザー走査顕微鏡 共焦点レーザー顕微鏡 電子顕微鏡 透過型電子顕微鏡 (TEM) 走査型電子顕微鏡 (SEM)
蛍光の発生（自家蛍光、後述）の少ない対物レンズが必要である。この目的に開発された対物レンズはフルオール(Fluor/Fluar,ドイツ語で蛍石を意味する・FLとも略される)と呼ばれる。 蛍光観察のための特殊な染色法として、蛍光染色・化学的蛍光染色・抗体蛍光染色などが行われる。 蛍光染色
構造上の最大の特徴は、コンデンサ部および対物レンズと接眼レンズ間の二箇所に配置された2個の偏光板である。コンデンサ部の偏光子によって試料に直線偏光を照射することを可能にしている。 1834年または1845年に英国で発明されたとされる。 1. 光源
光学顕微鏡（こうがくけんびきょう）は、可視光線および近傍の波長域の光を利用する、顕微鏡の一種。単に顕微鏡と言う場合、これを指す。 光学顕微鏡は、ふつう試料に光を照射して、透過光や反射光あるいは蛍光など試料が発する光をレンズによって結像させて観察する。観察可能な倍率は一般に数十倍から数百倍、最高で2千倍程度。
顕微分光法(けんびぶんこうほう、英: microspectroscopy) は吸光度や吸収スペクトルにより微小領域の定性的定量的測定を行う分光法。 光学顕微鏡で特定の波長の光を試料に照射して吸光度や吸収スペクトル、散乱を測定することで微量物質の定性的定量的測定を行う。
顕微鏡 (STM)の原理を応用して試料表面の形状と電解質等のイオン流の2次元分布情報を可視化する。 ヘリウム原子を試料に照射して細部の構造を可視化する。微細加工も可能。 ^ a b “電界イオン顕微鏡・電界放射顕微鏡”. 2017年3月8日閲覧。 ^ 中村勝吾、「電界イオン顕微鏡による表面構造の研究」『日本結晶学会誌』
ホログラフィック顕微鏡 (DHM) は、デジタルホログラフィの像再生計算によって得られる複素振幅分布のうち、位相成分を抽出して再生像として用いることで、ナノメートルオーダの高さ変化や屈折率変化の検出が可能になった。 被写界深度が従来の光学顕微鏡よりも深いので3次元像を記録でき、歪の無い自由焦点画像を再生可能。
対物レンズからレーザーのような位相の揃った光源ではなくアークランプのような位相の揃わない光源でケーラー照明される。対物レンズは高開口(NA = 1.2)の液浸レンズが使用され、対向する対物レンズから入射した画像を重ねることにより干渉像を得る。2つの対物レンズ
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